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确保组件正常运行并可正确安全,以有效进行形状监测。ISRA的3D形状测量系统可捕捉组件几何形状,精度高达纳米级,同时可实现最短的周期时间。
从偏折法和多重立体测量到白光干涉法测量,我们的系统可为任何表面和形状提供理想的测量工艺。
每次测量均能够提供微米级的精确数据,以确保使用数字CAD验证获得超高的尺寸精度。这一高效和具有成本效益的解决方案可直接在随机采样中在线或沿线使用,也可以在实验室中离线使用。
使用多重立体传感器系统实现高精度3D几何监测 - 即使在高光面物体上亦是如此
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使用偏折法实现高效的3D质量控制
使用白光干涉法实现高精度3D测量