我们先进的检测解决方案能够检测晶圆表面、边缘以及晶圆内部的缺陷。我们提供缺陷分类、计量分析以及数据管理服务,以支持制造商在整个晶圆制造过程中保证产品质量。
借助我们先进的二维和三维检测系统,我们从晶圆到封装阶段对芯片逐个进行检测,确保实现全面的质量保证。这能保证只有无缺陷的部件交付给客户,同时提高可追溯性和投资回报率。
ISRA VISION的半导体制造检测工具包括晶圆表面、边缘和内部的缺陷检测。缺陷分类、计量和数据管理是我们解决方案的补充,有助于制造商在整个晶圆片制造过程中管理质量。
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阿特拉斯科普柯工业技术(上海)有限公司
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