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TEX-Q

监测电池表面的污染和缺陷,同时检查制绒的均匀性和反射率。

捕获可靠生产质量

TEX-Q检测系统精确监测电池表面的污染和缺陷,同时检查制绒的均匀性和反射率。它具有高性能的线扫描相机,即使在每小时数千片硅片的吞吐量下,也能发现长期工艺漂移或晶界过刻蚀等缺陷。摄像头也可以安装在滚筒运输的下方。

该系统可靠地监控每个生产单元的质量,将缺陷分配到相应的硅片位置。在此过程中生成的地图( “船视图”)将在出现过程偏差时进行优化的可能性可视化。因此,用户可以快速抵消任何偏差,并直接减少浪费。此外,该系统使用户能够自动移除不符合分类阈值的硅片,从而避免成本密集型的进一步处理。TEX-Q提供可靠的工艺监控,确保高效生产,降低生产线上的生产成本,并优化生产的太阳能硅片的质量。


TEX-Q 解决方案的动力来自

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  • 制绒质量监测:检查均匀性和反射率
  • 检查污染和缺陷、长期工艺漂移
  • 适用于各种质地:碱性、酸性、MCCE(黑硅)
  • 检查M6到M12+的晶圆尺寸
  • 线扫式检查,循环时间<0.7秒,吞吐量高
  • 将故障电池追溯到载体、机器和化学槽

探索TEX-Q的全部应用

硅片和电池

检测系统监测电池表面的污染和缺陷,同时检查制绒的均匀性和反射率。
wafer and cell manufacturing

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